IAIP 2007年度第3回研究会「生産システム関連の画像応用技術」

精密工学会画像応用技術専門委員会（IAIP)
http://www.tc-iaip.org/

・事前申込み不要
・聴講費2,000円(現地にて支払い)　　　　　　　

１．日　時：２００７年１１月１６日（金）午後２時より
２．場　所：東京電機大学　６号館　３階　６３０１教室
　　　　　　〒101-8457 千代田区神田錦町２－２
　　　　　　当日連絡先　伊藤委員　TEL 03-5280-3408　FAX 03-5280-3571
　　　　　　e-mail　　itoh@cck.dendai.ac.jp
３．話題提供　テーマ「生産システム関連の画像応用技術」
［１］講演（14：00～15：00）
　　「半導体計測・検査への画像処理技術の応用ニーズ」
　　　　㈱日立ハイテクノロジーズ　ナイテクノロジ製品事業本部　渡辺　健二　氏　
　◆講演概要
　　　多様性を増す材料、高アスペクト比構造、立体デバイス構造の導入などに
伴い、各種画像を用いた 半導体デバイス計測・検査の技術課題は非常に
高度なものとなっており、その実情と課題について 述べる。

［２］講演（15：10～16：10）
　　「FPDパネル製造工程における最新外観検査技術」
　　　　タカノ㈱　エレクトロニクス部門　画像計測グループ　開発部　戸田　好実　氏　
◆講演概要
　　　近年、大型化するフラットＴＶの製造工程から要求される検査ニーズに対
し、弊社の各種検査装置を例に最新の画像応用技術について紹介を行う。
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
［３］研究発表（16：10～16：40）
　　「電子ディスプレイの色むらグレード評価」
　　　　　広島工業大学　工学部　電子情報工学科　　　　浅野 敏郎　氏
　◆研究発表概要
電子ディスプレイ（液晶、プラズマなど）に複数の「むら」が存在したと
きのグレード評価方法についての検討結果を報告する。複数色むら評価モ
デルを提案し、実験結果から妥当性を議論する。　　　　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
[４] 事例紹介（16：40～17：00）
　　「大型FPDパネル点灯検査の自動化への取り組み」　　　　　　　　　　　
　　　　 ㈱ファースト　ソリューション開発本部　ソリューション１部　三谷　洋之　氏
　◆事例紹介概要　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
　　　大型FPDパネルの点灯検査を自動化する目的、検査を行うにあたっての諸
問題、および今後の動向等